Semiconductor characterization techniques : proceedings of the Topical Conference on Characterization Techniques for Semiconductor Materials and Devices / edited by Peter A. Barnes, George A. Rozgonyi ; assistant editors C. L. Anderson, W. M. Bullis, G. W. Cullen, H. R. Huff, E. H. Nicollian, G. H. Olson, K. Pickar, P. Rai–Choudhury, K. V. Ravi, J. Stach, C. J. Varker, H. A. Waggener, J. Woolhouse
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| # | Collocazione | Prestabile | Disponibilità | |
|---|---|---|---|---|
| ARGE1 (GE) - ICFAM | UTENZA: X.II.4/20 | Si | Biblioteca |
